ДСТУ EN 62047-16:2022 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытания для определения остаточных напряжений пленок MEMS. Кривизна пластины и методы отклонения балки...

Документ еще отсутствует на сервисе.
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).

Заявка на документ

Заказать Регистрация

У Вас есть вопросы по документу? Мы рады на них ответить!

Обнаружили ошибку в документе или на сайте? Пожалуйста, напишите нам об этом!

Сервис содержит 21315 бесплатных документов. Регистрируйтесь бесплатно >>>

Информация о документе
Ссылки на документы

Наименование документа:

ДСТУ EN 62047-16:2022 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 16. Методы испытания для определения остаточных напряжений пленок MEMS. Кривизна пластины и методы отклонения балки консоли (EN 62047-16:2015, IDT; IEC 62047-16:2015, IDT)

Статус:

Действующий

Язык документа

Английский

Дата начала действия:

31.12.2023

Дата принятия:

28.12.2022

Утверждающий документ:

Приказ от 28.12.2022 № 285 О пакетном принятии европейских нормативных документов CEN/CENELEC

Вид документа:

ДСТУ (Государственный Стандарт Украины)

Шифр документа:

ДСТУ EN 62047-16:2022

Разработчик:

ГП «Украинский научно-исследовательский и учебный центр проблем стандартизации, сертификации и качества» (ГП «УкрНИУЦ»)

Документ соответствует официальному тексту.
По вопросам приобретения официального издания обращайтесь к национальному органу стандартизации (ГП «УкрНДНЦ»)

На данный документ ссылаются следующие документы:

Приказ от 28.12.2022 № 285 О пакетном принятии европейских нормативных документов CEN/CENELEC