ДСТУ EN ISO/CIE 11664-3:2020 Колориметрия. Часть 3. Цветовые координаты СІЕ (EN ISO/CIE 11664-3:2019, IDT; ISO/CIE 11664-3:2019, IDT)

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ДСТУ EN ISO/CIE 11664-3:2020
(EN ISO/CIE 11664-3:2019, IDT;
ISO/CIE 11664-3:2019, IDT)

КОЛОРИМЕТРІЯ

Частина 3. Колірні координати CIE

Відповідає офіційному тексту

З питань придбання
офіційного видання звертайтесь до
національного органу стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

1 РОЗРОБЛЕНО: Технічний комітет стандартизації «Аудіовізуальні системи і служби» (ТК 123), Державне підприємство «УКРАЇНСЬКИЙ НАУКОВО-ДОСЛІДНИЙ ІНСТИТУТ РАДІО І ТЕЛЕБАЧЕННЯ» (ДП «УНДІРТ»)

2 ПРИЙНЯТО ТА НАДАНО ЧИННОСТІ: наказ Державного підприємства «Український науково-дослідний і навчальний центр проблем стандартизації, сертифікації та якості» (ДП «УкрНДНЦ») від 29 грудня 2020 р. № 520 з 2021-11-01

3 Національний стандарт відповідає EN ISO/CIE 11664-3:2019 Colorimetry — Part 3: CIE tristimulus values (ISO/CIE 11664-3:2019) (Колориметрія. Частина 3. Колірні координати CIE) і внесений з дозволу CEN, Rue de la Science 23, B-1040 Brussels, Belgium. Усі права щодо використання європейських стандартів у будь-якій формі й будь-яким способом залишаються за CEN

Ступінь відповідності — ідентичний (IDT)

Переклад з англійської (en)

4 Цей стандарт розроблено згідно з правилами, установленими в національній стандартизації України

5 НА ЗАМІНУ ДСТУ EN ISO 11664-3:2018 (EN ISO 11664-3:2013, IDT; ISO 11664-3:2012, IDT)

ЗМІСТ

Національний вступ

Вступ до ISO/CIE 11664-3:2019

1 Сфера застосування

2 Нормативні посилання

3 Терміни та визначення понять

4 Познаки та скорочення

5 Умови застосування стандарту

5.1 Загальні відомості

5.2 Обчислювання значень колірних координат

5.3 Нормувальний коефіцієнт для самосвітних джерел світла

5.4 Нормувальний коефіцієнт для об’єктів, таких, що відбивають, або таких, що пропускають світло

5.5 Стандартна колориметрична система CIE 1964

6 Скорочені методи обчислювання

6.1 Загальні відомості

6.2 Скорочений метод обчислювання для даних, наданих з інтервалом 5 нм

6.3 Скорочений метод обчислювання для даних, надаваних з інтервалом 10 нм або 20 нм для об’єктів, що відбивають або пропускають світло

6.4 Скорочений метод обчислювання для даних, надаваних з інтервалом 10 нм або 20 нм для самосвітних джерел світла

7 Додаткове обробляння вхідних даних

7.1 Загальні відомості