ДСТУ EN 60749-35:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов с пластиковыми капсулами (EN 60749-35:2006, IDT; IEC...
ДСТУ EN 60749-35:2022
(EN 60749-35:2006, IDT; IEC 60749-35:2006, IDT)
Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 35. Акустична мікроскопія електронних компонентів із пластиковими капсулами
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)
Contents
1 Scope
2 Terms and definitions
3 Test apparatus
3.1 Reflective acoustic microscope system
3.2 Through transmission acoustic microscope system
3.3 Reference packages or standards
3.4 Sample holder
4 Procedure
4.1 General
4.2 Equipment setup
4.3 Performance of acoustic scans
Annex A (informative) Acoustic microscopy check sheet (example only - not a mandatcry template)
Annex В (informative) Potential image pitfalls
Annex C (informative) Some limitations of acoustic microscopy
Annex D (informative) Reference checklist for presenting applicable scanned data
Bibliography
Figure 1 - Example of А-mode display
Figure 2 - Example of В-mode display (bottom half of picture on left)
Figure 3 - Example of C-mode display
Figure 4 - Example of through transmission display
Figure 5 - Diagram of a reflective acoustic microscope system
Figure 6 - Diagram of a through transmission acoustic microscope system
Полная версия документа доступна в тарифе «ВСЕ ВКЛЮЧЕНО».