ДСТУ EN 60749-37:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра (EN 60749-37:2008, IDT; IEC 607...
Документ еще отсутствует на сервисе.
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).