ДСТУ 60749-40:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение уровня платы с использованием тензодатчика (EN 60749-40:2011, IDT; IEC 60749-4...
Документ еще отсутствует на сервисе.
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).