ДСТУ EN 62047-10:2022 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10: Испытания для сжатия микростойки для материалов MEMS (EN 62047-10:2011, IDT; IEC 62047-10:2011, IDT)
Документ еще отсутствует на сервисе.
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).