ДСТУ EN ISO 20339:2018 Неруйнівний контроль. Обладнання для вихрострумового обстеження. Характеристики і верифікація матричних перетворювачів (EN ISO 20339:2017, IDT; ISO 20339:2017, IDT)

Даний документ доступний у тарифі «ВСЕ ВРАХОВАНО»

У Вас є питання стосовно документа? Ми раді на них відповісти!Перелік безкоштовних документівПомітили помилку в документі або на сайті? Будь ласка, напишіть нам про це!Залишити заявку на документ

ПІДТВЕРДЖУВАЛЬНЕ ПОВІДОМЛЕННЯ

Державне підприємство
«Український науково-дослідний і навчальний центр
проблем стандартизації, сертифікації та якості»
(З питань придбання офіційного видання звертайтесь до національного органу стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ»))

Наказ від 10.12.2018 № 472

EN ISO 20339:2017

Non-destructive testing —
Equipment for eddy current examination —
Array probe characteristics and verification
(ISO 20339:2017)

прийнято як національний стандарт
методом «підтвердження» за позначенням
Відповідає офіційному тексту

ДСТУ EN ISO 20339:2018
(EN ISO 20339:2017, IDT; ISO 20339:2017, IDT)

Неруйнівний контроль.
Обладнання для вихрострумового обстеження.
Характеристики і верифікація матричних перетворювачів

З наданням чинності від 2019–01–01

Contents

Foreword

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Probe and interconnecting elements characteristics

4.1 General characteristics

4.2 Electrical characteristics

4.3 Functional characteristics s

5 Verification

5.1 Level of verifications ns

5.2 Characteristics to be verified

6 Measurement of electrical and functional characteristics of an array probe

6.1 Electrical characteristics

6.2 Functional characteristics

6.2.1 General

6.2.2 Measurement conditions

7 Surface array probes

7.1 Reference blocks

7.2 Probe motion

7.3 Reference signal — Normalization

7.4 Edge effect (measurable in the case of simple geometry, e.g. metal sheets, disks)

7.5 Response to a slot

7.6 Response to a hole

7.7 Length of coverage

7.8 Variation in sensitivity between patterns

7.9 Minimum slot length for constant probe response

7.10 Lift-off effect

7.11 Effect of probe clearance on slot response

7.12 Effective depth of detection of a sub-surface slot

7.13 Resolution

7.14 Defective element or pattern

8 Coaxial array probes

8.1 General conditions

8.2 Reference blocks

8.3 Reference signal

8.4 Absence of defective elements

8.5 Position mark of the probe (mainly for positioning)

8.6 End effect

8.7 Length of coverage

8.8 Homogeneity of axial response

8.9 Eccentricity effect

8.10 Fill effect

8.11 Effective depth of penetration

8.12 Effective depth of detection under ligament

9 Influence of interconnecting elements

Annex A (informative) Simulation of surface probe resolution

Повна версія документа доступна в тарифі «ВСЕ ВРАХОВАНО».

Увійти в Особистий кабінет Детальніше про тарифи

БУДСТАНДАРТ Online