ДСТУ EN 60904-10:2018 Прилади фотоелектричні. Частина 10. Методи вимірювання лінійності характеристик (EN 60904-10:2010, IDT; ІЕС 60904-10:2009, IDT)

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ПРИЛАДИ ФОТОЕЛЕКТРИЧНІ
Частина 10. Методи вимірювання лінійності
характеристик

ДСТУ EN 60904-10:2018
(EN 60904-10:2010, IDT;
ІЕС 60904-10:2009, IDT)

Відповідає офіційному тексту

З питань придбання офіційного видання звертайтесь
до національного органу стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.org.ua)

ПЕРЕДМОВА

1 РОЗРОБЛЕНО: Технічний комітет стандартизації «Енергозбереження» (ТК 48), Національний науковий центр «Інститут метрології» (ННЦ «Інститут метрології»)

2 ПРИЙНЯТО ТА НАДАНО ЧИННОСТІ: наказ Державного підприємства «Український науково-дослідний і навчальний центр проблем стандартизації, сертифікації та якості» (ДП «УкрНДНЦ») від 19 грудня 2018 р. № 514 з 2020-01-01

3 Національний стандарт відповідає EN 60904-10:2010 Photovoltaic devices — Part 10: Methods of linearity measurement (IEC 60904-10:2009) (Прилади фотоелектричні. Частина 10. Методи вимірювання лінійності характеристик) і внесений з дозволу CENELEC, Avenue Marnix 17, В-1000 Brussels, Belgium. Усі права щодо використання європейських стандартів у будь-якій формі й будь-яким способом залишаються за CENELEC

Ступень відповідності — ідентичний (IDT)

Переклад з англійської (еn)

4 Цей стандарт розроблено згідно з правилами, установленими в національній стандартизації України

5 УВЕДЕНО ВПЕРШЕ

ЗМІСТ

Національний вступ

Передмова до EN 60904-10:2010

1 Сфера застосування

2 Нормативні посилання

3 Випробувальне обладнання

4 Вибір зразка

5 Методи випробування для перевіряння лінійності струму та напруги

5.1 Випробування в разі природного сонячного освітлення

5.2 Випробування з використанням імітатора сонячного випромінювання

5.3 Перевіряння лінійності струму короткого замикання з використанням абсолютної спектральної чутливості

6 Перевіряння лінійності струму короткого замикання методом двох ламп

6.1 Обґрунтування

6.2 Апаратура. Джерела світла А та В

6.3 Загальний порядок вимірювання

7 Обчислення лінійності

7.1 Визначення лінійності нахилу

7.2 Визначення лінійності струму короткого замикання методом двох ламп

7.3 Вимоги щодо лінійності

8 Звіт

Бібліографія

Додаток ZA (обов’язковий) Нормативні посилання на міжнародні видання та їхні європейські відповідники

Додаток НА (довідковий) Перелік національних стандартів України, ідентичних європейському та міжнародним нормативним документам, посилання на які є в цьому стандарті

НАЦІОНАЛЬНИЙ ВСТУП

Цей національний стандарт ДСТУ EN 60904-10:2018 (EN 60904-10:2010, IDT; ІЕС 60904-10:2009, IDT) «Прилади фотоелектричні. Частина 10. Методи вимірювання лінійності характеристик», прийнятий методом перекладу, — ідентичний щодо EN 60904-10:2010 (версія en) «Photovoltaic devices — Part 10: Methods of linearity measurement» .

Технічний комітет стандартизації, відповідальний за цей стандарт в Україні, — ТК 48 «Енергозбереження».

У цьому національному стандарті зазначено вимоги, які відповідають законодавству України.

До стандарту внесено такі редакційні зміни:

— слова «цей міжнародний стандарт», «ця частина», «ця публікація», «міжнародний стандарт ІЕС 60904-10» та «цей документ» замінено на «цей стандарт»;

— структурні елементи стандарту: «Титульний аркуш», «Передмову», «Національний вступ», першу сторінку та «Бібліографічні дані» — оформлено згідно з вимогами національної стандартизації України;

— долучено довідковий додаток НА (Перелік національних стандартів України, ідентичних європейському та міжнародним нормативним документам, посилання на які є в цьому стандарті).

ПЕРЕДМОВА до EN 60904-10:2010

Текст документа 82/582/FDIS, майбутнє видання 2 ІЕС 60904-10, підготовлено ІЕС ТС 82 «Сонячні фотоелектричні енергетичні системи», представлено паралельному голосуванню IEC-CENELEC та схвалено CENELEC як EN 60904-10 на 2010-03-01.

Цей європейський стандарт замінює EN 60904-10:1998.

Основні технічні зміни стосовно EN 60904-10:1998 наведено нижче.

— Долучено положення щодо методу двох ламп для визначення лінійності /sc.

— Змінено стандартний відхил як показник лінійності на відсотковий відхил від лінійності. Це зроблено через те, що нелінійний пристрій може мати низький стандартний відхил, а відсотковий відхил — це кількісний показник, який є важливим для досліджуваного параметра.

— Вилучено положення щодо нелінійності спектральної чутливості, оскільки його не використовує будь-яка група, яка проводить випробування/калібрування фотоелектричних (ФЕ) приладів. Для випробування реальних ФЕ-приладів важко зробити цю помилку значною в коефіцієнті коригування спектральної невідповідності, зберігаючи при цьому лінійність /sc. Вимірювання чутливості по всьому діапазону спектральних відгуків означає, що прилад, імовірно, не зможе досягти лінійності температури поблизу краю спектральної смуги.

— Долучено положення, яке дає змогу визначити лінійність залежності короткого замикання від температури чи від сумарної енергетичної освітленості з абсолютних вимірювань спектральної чутливості. Ці дані регулярно повідомляють у первинних сертифікатах калібрування еталонних елементів РТВ.

— Долучено положення про звіт згідно з вимогами ISO/IEC 17025.

— Часто температурний коефіцієнт струму короткого замикання дуже малий, тому помилки вимірювання можуть спричинити відхили у відсотках за межами прийнятого діапазону. Тому до 7.3с) долучено такий текст: «Якщо температурний коефіцієнт струму короткого замикання менше ніж 0,1 %/К, то пристрій можна вважати лінійним щодо цього параметра».

Треба звернути увагу, що деякі елементи цього документа можуть бути предметом патентних прав. CEN та CENELEC не несуть відповідальності за виявлення будь-яких або всіх таких патентних прав.

Було встановлено такі дати:

— остання дата, до якої EN має бути впроваджено на національному рівні опублікуванням ідентичного національного стандарту чи схваленням (dop) 2010-12-01;

— остання дата, до якої потрібно скасувати національні стандарти, що суперечать EN, (dow) 2013-03-01.

Додаток ZA долучено CENELEC.

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ПРИЛАДИ ФОТОЕЛЕКТРИЧНІ
Частина 10. Методи вимірювання лінійності характеристик

PHOTOVOLTAIC DEVICES
Part 10. Methods of linearity measurement

Чинний від 2020-01-01

1 СФЕРА ЗАСТОСУВАННЯ

Цей стандарт описує процедури, які використовують для визначення ступеня лінійності будь-якого параметра фотоелектричного приладу за зміни тестового параметра (тобто одного з параметрів, від яких залежать умови функціонування приладу). У першу чергу цей стандарт призначено для використання калібрувальними лабораторіями, виробниками фотоелектричних модулів та проектувальниками систем.

Під час оцінювання робочих характеристик фотоелектричних модулів та систем, а також у разі переходу від одного набору температур та умов випромінювання до іншого часто припускають справедливість використання лінійних рівнянь (див. ІЕС 60891 та ІЕС 61829). Цей стандарт установлює вимоги до лінійності й вимоги до методів випробування, які забезпечують, щоб ці лінійні рівняння давали задовільні результати. Опосередковано ці вимоги визначають діапазони змін температури й енергетичного освітлення, у яких можливо використовувати лінійні рівняння.

Методи вимірювань, описані в цьому стандарті, застосовують до всіх фотоелектричних приладів і призначені для проведення випробувань зі зразком фотоелектричного приладу чи аналогічним йому пристроєм, виконаним за ідентичною технологією. Перевірку лінійності фотоелектричного приладу треба проводити до будь-яких вимірювань або процедур коригування, які потребують використання приладу з лінійними характеристиками. Методологія оцінки лінійності, застосована в стандарті, аналогічна методології ІЕС 60891: набір точок експериментальних даних апроксимують лінійною функцією (прямою лінією) методом найменших квадратів. У стандарті обчислюють відхилення даних від цієї функції і лінійність визначають за допустимим відносним відхилом.

Прилад вважають лінійним, якщо він відповідає вимогам 7.3.

Загальні процедури визначення ступеня лінійності для деяких робочих параметрів описано в розділах 5 та 6.

2 НОРМАТИВНІ ПОСИЛАННЯ

Наведені нижче нормативні документи потрібні для застосування цього стандарту. У разі датованих посилань застосовують лише наведені видання. У разі недатованих посилань потрібно користуватись останнім виданням нормативних документів (разом зі змінами).

ІЕС 60891 Photovoltaic devices — Procedures for temperature and irradiance corrections to measured l-V characteristics

IEC 60904-1 Photovoltaic devices — Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics

IEC 60904-3 Photovoltaic devices — Part 3: Measurement principles for terrestrial photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data

IEC 60904-8 Photovoltaic devices — Part 8: Measurement of spectral response of a photovoltaic (PV) device

ІЕС 60904-9 Photovoltaic devices — Part 9: Solar simulator performance requirements

IEC 61215 Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules — Design qualification and type approval

IEC 61646 Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules — Design qualification and type approval

ISO/IEC 17025 General requirements for the competence of testing and calibration laboratories.

НАЦІОНАЛЬНЕ ПОЯСНЕННЯ

ІЕС 60891 Прилади фотоелектричні. Процедури для коригування температури й енергетичної освітленості під час вимірювання вольт-амперних характеристик

ІЕС 60904-1 Прилади фотоелектричні. Частина 1. Вимірювання фотоелектричних вольт-амперних характеристик

ІЕС 60904-3 Прилади фотоелектричні. Частина 3 Принципи вимірювання для наземних фотоелектричних (ФЕ) сонячних приладів зі стандартними спектральними характеристиками енергетичної освітленості

ІЕС 60904-8 Прилади фотоелектричні. Частина 8. Вимірювання спектральної характеристики фотоелектричного (ФЕ) приладу

ІЕС 60904-9 Прилади фотоелектричні. Частина 9. Вимоги до робочих характеристик імітаторів сонячного випромінювання

ІЕС 61215 Наземні фотоелектричні (ФЕ) модулі з кристалічного кремнію. Вимоги до конструкції й типових випробувань

ІЕС 61646 Тонкоплівкові наземні фотоелектричні (ФЕ) модулі. Вимоги до конструкції й типових випробувань

ISO/IEC 17025 Загальні вимоги до компетенції випробувальних та калібрувальних лабораторій