ДСТУ EN 62047-16:2022 Напівпровідникові прилади. Мікроелектромеханічні пристрої. Частина 16. Методи випробування для визначення залишкових напруг плівок MEMS. Кривизна пластини та методи відхилення балки конс...

Документ ще відсутній на сервісі.
Залиште заявку на документ, щоб дізнатися інформацію про наявність (інформація надається протягом 1 робочого дня).

У Вас є питання стосовно документа? Ми раді на них відповісти!Перелік безкоштовних документівПомітили помилку в документі або на сайті? Будь ласка, напишіть нам про це!Залишити заявку на документ

БУДСТАНДАРТ Online