ДСТУ ISO 3274-2002 Технические требования к геометрии изделий (GPS). Структура поверхности. Профильный метод. Номинальные характеристики контактных (щуповых) приборов (ISO 3274:1996, IDT)

ДСТУ ISO 3274-2002
(ISO 3274:1996, IDT)

Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS).
Структура поверхні. Профільний метод. Номінальні характеристики контактних (щупових) приладів

 
   
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

ПЕРЕДМОВА

1 ВНЕСЕНО ТК 47, Акціонерним товариством закритого типу «Науково-дослідний інститут «Редуктор» (АТЗТ «НДІ «Редуктор»)

2 НАДАНО ЧИННОСТІ наказом Держстандарту України від 18 вересня 2002 р. № 513 з 2003-10-01

3 Стандарт відповідає ISO 3274:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments (Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Номінальні характеристики контактних (шупових) приладів)

Ступінь відповідності — ідентичний (IDT)

Переклад з англійської (еn)

4 ВВЕДЕНО ВПЕРШЕ

5 ПЕРЕКЛАД І НАУКОВО-ТЕХНІЧНЕ РЕДАГУВАННЯ: В. Власенко, канд. техн. наук; В. Фей (науковий керівник); М. Осипенко; В. Галушко; О. Висоцький

ЗМІСТ

Національний вступ

1 Сфера застосування

2 Нормативні посилання

3 Терміни та визначення понять

4 Номінальні величини характеристики приладу

Додаток А Прилади, узгоджені з ISO 3274:1975

Додаток В Передумови для поліпшень, внесених у цей стандарт

Додаток С Відношення до моделі матриці GPS

Додаток D Бібліографія

НАЦІОНАЛЬНИЙ ВСТУП

Цей стандарт є ідентичний переклад ISO 3274:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments (Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Номінальні характеристики контактних (шупових) приладів).

Технічний комітет, відповідальний за цей стандарт — ТК 47 «Механічні приводи».

До стандарту внесено такі редакційні зміни:

— слова «цей міжнародний стандарт» замінено на «цей стандарт»;

— до розділу 2 долучено «Національне пояснення» щодо перекладу назв стандартів українською мовою та виділено в тексті рамкою;

— структурні елементи цього стандарту: «Обкладинку», «Передмову», «Зміст», «Національний вступ» та «Бібліографічні дані» — оформлено відповідно до вимог державної системи стандартизації України.

ISO 3274 є стандарт технічних вимог до геометрії виробів (GPS) і його вважають загальним стандартом GPS (див. ISO/TR 14638).

Він впливає на ланку 5 низки стандартів шорсткості профілю, хвилястості профілю і основного профілю. Докладнішу інформацію про відношення стандарту

ISO 3274 до інших стандартів і до моделі матриці GPS наведено в додатку С.

Це друге видання ISO 3274 відміняє і замінює перше видання (ISO 3274:1975), а також ISO 1880:1979, які було технічно переглянуто.

Зокрема, в ньому розглянуто номінальні характеристики контактних (щупових) приладів і їх технічне удосконалення. В удосконалених приладах використовують фазокоригувальні фільтри згідно з ISO 11562.

Фільтри для вимірювачів профілю згідно з ISO 3274:1975 було реалізовано як послідовне з’єднання двох аналогових фільтрів RC. Це призвело до значних змін у переміщенні профілю і отже, до асиметричних профільних викривлень. Вплив цього викривлення на параметри Ra і Rz звичайно незначний, якщо використовують базові довжини (порогова довжина хвилі) згідно з ISO 4288:1985. Тому аналогові прилади згідно з ISO 3274:1975 або прилади, у яких використовують фільтри 2RC, можна використати для оцінювання Ra і Rz (див. додаток А). Проте і для інших параметрів має місце викривлення.

Додатки А, В, С і D цього стандарту наведено тільки для інформації.

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ТЕХНІЧНІ ВИМОГИ ДО ГЕОМЕТРІЇ ВИРОБІВ (GPS)
Структура поверхні. Профільний метод
Номінальні характеристики контактних (щупових) приладів

ТЕХНИЧЕСКИЕ ТРЕБОВАНИЯ К ГЕОМЕТРИИ ИЗДЕЛИЙ (GPS)
Структура поверхности. Профильный метод
Номинальные характеристики контактных (щуповых) приборов

GEOMETRICAL PRODUCT SPECIFICATIONS (GPS)
Surface texture. Profile method
Nominal characteristics of contact (stylus) instruments

Чинний від 2003-10-01

1 СФЕРА ЗАСТОСУВАННЯ

Цей стандарт визначає профілі і загальну структуру контактних (щупових) приладів для ви мірювання шорсткості і хвилястості поверхні, дає право наявним стандартам бути допустимими до практичного оцінювання профілю. Він установлює характеристики приладу, які впливають на оцінювання профілю і передбачає основи технічних вимог до контактних (щупових) приладів (профілометр і профілограф).

2 НОРМАТИВНІ ПОСИЛАННЯ

Нижченаведені стандарти містять положення, які через посилання в цьому тексті, становлять положення цього стандарту. На час опублікування вказані видання були чинні. Всі стандарти за знають перегляду і сторонам угод, базованих на цьому стандарті, пропонують використовувати останні видання стандартів, вказаних нижче. Члени міжнародної електротехнічної комісії (ІЕС) і Міжнародної організації із стандартизації (ISO) впорядковують каталоги чинних на цей час міжна родних стандартів.

ISO 4287:1997 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters

ISO 4288:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Rules and procedures for the assessment of surface texture

ISO 5436:1985 Calibration specimens — Stylus instruments — Types, calibration and use of specimens

ISO 11562:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Metrological characteristics of phase correct filters

ISO 12085:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Motif parameters

ISO 13565-1:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Surfaces having stratified functional properties — Part 1: Filtering and overall measuring conditions

ISO 13565-2:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Surfaces having stratified functional properties — Part 2: Height characterization using the linear material ratio curve

ISO 13565-3 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Surfaces having stratified functional properties — Part 3: Height characterization using the material probability curve

НАЦІОНАЛЬНЕ ПОЯСНЕННЯ

ISO 4287:1997 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Терміни, визначення і параметри структури поверхні

ISO 4288:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Правила і процедури оцінювання структури поверхні

ISO 5436:1985 Зразки калібрування. Щупові прилади. Типи, калібрування і використовування зразків

ISO 11562:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Метрологічна характеристика фазових точних фільтрів

ISO 12085:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Параметри структурних елементів

ISO 13565-1:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Поверхні з нанесеним функціональним шаром. Частина 1. Фільтрування та загальні умови вимірювання

ISO 13565-2:1996 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Поверхні з нанесеним функціональним шаром. Частина 2. Визначання параметрів висоти з використанням лінеарізованої кривої опорної поверхні

ISO 13565-3 Технічні вимоги до геометрії виробів (GPS). Структура поверхні. Профільний метод. Поверхні з нанесеним функціональним шаром. Частина 3. Визначання параметрів висоти з використовуванням ймовірнісної кривої