ДСТУ CR 10320:2014 Оптический эмиссионный анализ низколегированных сталей (стандартный метод). Метод определения C, Si, S, P, Mn, Cr, Ni и Cu (CR 10320:2004, IDT)



ПІДТВЕРДЖУВАЛЬНЕ ПОВІДОМЛЕННЯ

Державне підприємство
«Український науково-дослідний і навчальний центр
проблем стандартизації, сертифікації та якості»
(ДП «УкрНДНЦ»)

Наказ від 30.12.2014 № 1494

CR 10320:2004

Optical emission analysis of low alloy steels (routine method) - Method for determination of C, Si, S, P, Mn, Cr, Ni and Cu

прийнято як національний стандарт
методом «підтвердження» за позначенням

ДСТУ CR 10320:2014
(CR 10320:2004, IDT)

Оптичний емісійний аналіз низьколегованих сталей (стандартний метод).
Метод визначення C, Si, S, P, Mn, Cr, Ni та Cu

З наданням чинності від 2016-01-01

 

 
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

1 Scope

2 Test sample preparation

3 Calibration of the instrument

3.1 Determination of calibration curve

3.2 Linear correlation

3.3 Quadratic correlation

3.4 Confidence limit (Syc) and standard error (Syx) in a linear correlation

3.5 Confidence limit (Syc) and standard error (Syx) in a quadratic correlation

3.6 Correlation accuracy

4 Calculation of interferences

4.1 Spectral interferences

4.2 Matrix interferences

4.3 Calculation of an interfered element due to either matrix effect or spectral interference

5 Determination of performance criteria

5.1 Determination of background equivalent concentration ВЕС

5.2 Determination of detection limit DL

5.3 Determination of repeatability as relative standard deviation RSD

5.4 Determination of accuracy SEA

6 Performing analysis

7 Ordinary maintenance

8 Quality control

8.1 Control chart

8.2 Calibration curve control

9 Examples

9.1 Determination of calibration curve

9.2 Calculation of interferences

9.3 Determination of background equivalent concentration

9.4 Determination of detection limit

9.5 Determination of repeatability

9.6 Determination of accuracy

9.7 Ordinary maintenance

9.8 Control CHART

9.9 Calibration curve control

10 Statistical results

Annex A Optical emission spectrometry

Bibliography