ДСТУ 60749-40:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение уровня платы с использованием тензодатчика (EN 60749-40:2011, IDT; IEC 60749-4...

ДСТУ EN 60749-40:2022
(EN 60749-40:2011, IDT; IEC 60749-40:2011, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і
кліматичних випробувань. Частина 40. Метод
випробування на падіння рівня плати з
використанням тензодатчика

 
 
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Test equipment

5 Test procedure

5.1 Test specimen

5.2 Test substrate

5.3 Solder paste

5.4 Mounting method

5.5 Pre-conditionings

5.6 Initial measurements

5.7 Intermediate measurement

5.8 Final measurement

6 Test method

6.1 Purpose of test method

6.2 Example of drop test equipment

6.3 Example of substrate-securing jig

6.4 Example of distance between supporting points

6.5 Example of impacting surface

6.6 Strain gauge

6.7 Strain gauge attachment

6.8 Strain measurement instrument

6.9 Test condition

7 Summary

Annex A (normative) Drop impact test method using test rod

Annex B (informative) An example of strain gauge attachment procedure