ДСТУ EN 62047-21:2022 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 21: Метод испытания коэффициента Пуассона тонкопленочных материалов MEMS (EN 62047-21:2014, IDT; IEC 62047-21:2014,...
Документ еще отсутствует на сервисе.
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).