ДСТУ EN 60749-1:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 1. Загальні положення (EN 60749-1:2003, IDT; IEC 60749-1:2002, IDT)

Даний документ доступний у тарифі «ВСЕ ВРАХОВАНО»

У Вас є питання стосовно документа? Ми раді на них відповісти!Перелік безкоштовних документівПомітили помилку в документі або на сайті? Будь ласка, напишіть нам про це!Залишити заявку на документ


ДСТУ EN 60749-1:2022
(EN 60749-1:2003, IDT; IEC 60749-1:2002, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 1. Загальні положення

 

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Introduction

1 Scope

2 Normative references

3 Terms, definitions and letter sym bols

4 Standard atmospheric conditions

5 Electrical measurements

6 Use of electrically defective devices

Annex ZA (normative) Normative references to international publications with their corresponding European publications

Повна версія документа доступна в тарифі «ВСЕ ВРАХОВАНО».

Увійти в Особистий кабінет Детальніше про тарифи

БУДСТАНДАРТ Online