ДСТУ EN 60749-4:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 4. Вологе тепло, стаціонарний стан, високоприскорений стрес-випробування (HAST) (EN 60749-4:2017, IDT; IEC...

ДСТУ EN 60749-4:2022
(EN 60749-4:2017, IDT; IEC 60749-4:2017, IDT)

 Прилади напівпровідникові. Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 4. Високоприскорені випробування в обтяженому режимі,
викликаному вологоим теплом (HAST)

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 HAST test - General remarks

5 Test apparatus

5.1 Test apparatus requirements

5.2 Controlled conditions

5.3 Temperature profile

5.4 Devices under stress

5.5 Minimize release of contamination

5.6 Ionic contamination

5.7 De-ionized water

6 Test conditions

6.1 Test conditions requirements

6.2 Biasing guidelines

6.3 Choosing and reporting

7 Procedure

7.1 Test device mounting

7.2 Ramp-up

7.3 Ramp-down

7.4 Test clock

7.5 Bias

7.6 Readout

7.7 Handling

7.8 Calibration records

8 Failure criteria

9 Safety

10 Summary