ДСТУ EN IEC 60749-30:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 30. Попереднє кондиціювання негерметичних приладів для поверхневого монтажу перед випробуванням на над...

ДСТУ EN IEC 60749-30:2022
(EN IEC 60749-30:2020, IDT; IEC 60749-30:2020, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 30. Попереднє кондиціювання негерметичних приладів
для поверхневого монтажу перед випробуванням на надійність

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 General description

5 Test apparatus and materials

5.1 General

5.2 Moisture chamber

5.3 Solder equipment

5.4 Optical microscope

5.5 Electrical test equipment

5.6 Drying (bake) oven

5.7 Temperature cycle chamber (optional)

6 Procedure

6.1 General

6.2 Initial measurements

6.3 Temperature cycling (optional)

6.4 Drying (bake out)

6.5 Soak conditions for dry-packed SMDs

6.6 Soak conditions for non-dry-packed SMDs in accordance with IEC 60749-20

6.7 Solder reflow

6.8 Flux application simulation (optional)

6.9 Final measurements

6.10 Applicable reliability tests

7 Summary