ДСТУ EN 60749-30:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 30. Попереднє кондиціювання негерметичних приладів для поверхневого монтажу перед випробуванням на надійні...

ДСТУ EN 60749-30:2022
(EN 60749-30:2005, IDT; IEC 60749-30:2005, IDT)

Напівпровідникові прилади . Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 30. Попереднє кондиціювання негерметичних приладів
для поверхневого монтажу перед випробуванням на надійність

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Normative references

3 General description

4 Test apparatus and materials

4.1 Moisture chamber

4.2 Solder equipment

4.3 Optical microscope

4.4 Electrical test equipment

4.5 Drying (bake) oven

4.6 Temperature cycle chamber (optional)

5 Procedure

5.1 General

5.2 Initial measurements

5.3 Temperature cycling (optional)

5.4 Drying (bake out)

5.5 Soak conditions for dry-packed SMDs

5.6 Method C for soak conditions for non-dry-packed SMDs in accordance with IEC 60749-20

5.7 Solder reflow

5.8 Flux application simulation (optional)

5.9 Final measurements

5.10 Applicable reliability tests

6 Summary

Annex ZA (normative) Normative references to international publications with their corresponding European publications