ДСТУ IEC 60115-1:2015 Резистори постійні для електронної апаратури. Частина 1. Загальні технічні умови (IEC 60115-1:2008, IDT)

ПІДТВЕРДЖУВАЛЬНЕ ПОВІДОМЛЕННЯ

Державне підприємство
«Український науково-дослідний і навчальний центр
проблем стандартизації, сертифікації та якості»
(   
(ДП «УкрНДНЦ»))

Наказ від 25.12.2015 № 205

IEC 60115-1:2008

Fixed resistors for use in electronic equipment - Part 1: Generic specification

прийнято як національний стандарт
методом «підтвердження» за позначенням
 

ДСТУ IEC 60115-1:2015
(IEC 60115-1:2008, IDT)

Резистори постійні для електронної апаратури. Частина 1. Загальні технічні умови

З наданням чинності від 2016-01-01

CONTENTS

FOREWORD

1 General

1.1 Scope

1.2 Normative references

2 Technical data

2.1 Units and symbols

2.2 Terms and definitions

2.3 Preferred values

2.4 Marking

2.5 Coding

2.6 Packaging

2.7 Storage

2.8 Transportation

3 Quality assessment procedures

4 Test and measurement procedures

4.1 General

4.2 Standard atmospheric conditions

4.3 Drying

4.4 Visual examination and checking of dimensions

4.5 Resistance

4.6 Insulation resistance

4.7 Voltage proof

4.8 Variation of resistance with temperature

4.9 Reactance

4.10 Non-linear properties

4.11 Voltage coefficient

4.12 Noise

4.13 Short time overload

4.14 Temperature rise

4.15 Robustness of the resistor body

4.16 Robustness of terminations

4.17 Solderability

4.18 Resistance to soldering heat

4.19 Rapid change of temperature

4.20 Bump

4.21 Shock

4.22 Vibration

4.23 Climatic sequence

4.24 Damp heat, steady state

4.25 Endurance

4.26 Accidental overload test

4.27 Single-pulse high-voltage overload test

4.28 Periodic-pulse high-voltage overload test

4.29 Component solvent resistance

4.30 Solvent resistance of marking

4.31 Mounting of surface mount resistors

4.32 Shear test

4.33 Substrate bending test

4.34 Corrosion

4.35 Flammability

4.36 Operation at low temperature

4.37 Damp heat, steady state, accelerated

4.38 Electrostatic discharge

4.39 Periodic-pulse overload test

4.40 Whisker growth test

4.41 Hydrogen sulphide test

Annex A (normative) Interpretation of sampling plans and procedures as described in IEC 60410 for use within the IECQ system

Annex В (normative) Rules for the preparation of detail specifications for resistors and capacitors for electronic equipment for use within the IECQ system

Annex C (informative) Example of test equipment for the periodic-pulse high-voltage overload test

Annex D (normative) Layout of the first page of a PCP/CQC specification

Annex E (normative) Requirements for capability approval test report

Annex F (informative) Letter symbols and abbreviations

Annex G (informative) Index table for test and measurement procedures

Annex Q (normative) Quality assessment procedures