ДСТУ EN 60749-19:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на смещение (EN 60749-19:2003, IDT; IEC 60749-19:2003, IDT)

ДСТУ EN 60749-19:2022
(EN 60749-19:2003, IDT; IEC 60749-19:2003, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 19. Міцність матриці на зсув

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Description of the test apparatus

3 Test method

4 Failure criteria

5 Requirements

6 Categories of separation

7 Summary