ДСТУ EN 60749-19:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на смещение (EN 60749-19:2003/A1:2010, IDT; IEC 60749-19:2003/A1:2010, IDT). Изменен...
Документ еще отсутствует на сервисе.
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).
Оставьте заявку на документ, чтобы узнать информацию о наличии (информация предоставляется в течение 1 рабочего дня).
