ДСТУ EN 62416:2022 Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов (EN 62416:2010, IDT; IEC 62416:2010, IDT)

ДСТУ EN 62416:2022
(EN 62416:2010, IDT; IEC 62416:2010, IDT)

Напівпровідникові прилади. Випробування
гарячих носіїв МОП-транзисторів

 
 
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Abbreviations and letter symbols

3 Test structures

4 Stress time

5 Stress conditions

6 Sample size

7 Temperature

8 Failure criteria

9 Lifetime estimation method

9.1 DC acceleration models

9.2 AC estimation model

10 Lifetime requirements

11 Reporting

Bibliography