ДСТУ EN 60749-15:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки для монтируемых приборов через отверстие (EN 60749-15:2010, IDT; IEC...
ДСТУ EN 60749-15:2022
(EN 60749-15:2010, IDT; IEC 60749-15:2010, IDT)
Напівпровідникові прилади. Методи механічних і
кліматичних випробувань. Частина 15. Стійкість до
температури паяння для приладів, що монтуються
через отвір
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)
Contents
Foreword
1 Scope
2 General
3 Test apparatus
3.1 Solder pot
3.2 Dipping device
3.3 Heatsinks or shielding
4 Materials
4.1 Solder
4.2 Flux
5 Procedure
5.1 Pre-conditioning of specimens
5.2 Preparation of the solder bath
5.3 Use of flux
5.4 Solder dip
5.5 Precautions
5.6 Measurements
5.7 Failure criteria
6 Summary
Bibliography
Полная версия документа доступна в тарифе «ВСЕ ВКЛЮЧЕНО».



