ДСТУ EN IEC 60749-41:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытания надежности приборов энергонезависимой памяти (EN IEC 60749-41:2020, I...

ДСТУ EN IEC 60749-41:2022
(EN IEC 60749-41:2020, IDT; IEC 60749-41:2020, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних
випробувань. Частина 41. Стандартні методи випробування
надійності приладів енергонезалежної пам’яті

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

Introduction

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Apparatus

5 Procedure

5.1 Qualification specifications

5.2 Program/erase endurance

5.3 Data retention

5.4 Precautions

5.5 Measurements

6 Failure criteria and calculation

6.1 Failure definition

6.2 Handling of transient failures

6.3 Separation of failures into data errors and device failures

6.4 Calculation of UBER

7 Summary

Annex A (informative) Supplementary test condition

Bibliography