ДСТУ EN IEC 63287-1:2022 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Руководство по квалификации надежности микросхем (EN IEC 63287-1:2021, IDT; IEC 63287-1:2021, I...

ДСТУ EN IEC 63287-1:2022
(EN IEC 63287-1:2021, IDT; IEC 63287-1:2021, IDT)

Напівпровідникові прилади. Загальні рекомендації з
кваліфікації напівпровідників. Частина 1. Настанови
щодо кваліфікації надійності мікросхем

 
   
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

FOREWORD

INTRODUCTION

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Product categories and applications

5 Failure

5.1 Failure distribution

5.2 Early failure

5.3 Random failure

5.4 Wear-out failure

6 Reliability test

6.1 Reliability test description

6.2 Reliability test plan

6.3 Reliability test methods

6.4 Acceleration models for reliability tests

6.5 Concept of family

7 Stress test methods

8 Supplementary tests

9 Summary table of assumptions

10 Summary

Bibliography