ДСТУ EN 60947-4-3:2022 Аппаратура коммутационная и аппаратура управления низковольтная. Часть 4-3. Контакторы и пускатели электродвигателей. Полупроводниковые контроллеры и полупроводниковые пускатели перемен...



ДСТУ EN 60947-4-3:2022
(EN 60947-4-3:2014, IDT; IEC 60947-4-3:2014, IDT)

Апаратура комутаційна та апаратура керування низьковольтна.
Частина 4-3. Контактори та пускачі електродвигунів.
Напівпровідникові контролери та напівпровідникові пускачі
змінного струму для недвигунних навантажень

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

INTRODUCTION

1 Scope

2 Normative references

3 Terms, definitions, symbols and abbreviations

3.1 Terms and definitions concerning a.c. semiconductor (non-motor-load) control devices

3.2 Vacant

3.3 Symbols and abbreviations

4 Classification

5 Characteristics of a.c. semiconductor controllers and contactors

5.1 Summary of characteristics

5.2 Type of equipment

5.3 Rated and limiting values for main circuits

5.4 Utilization category

5.5 Control circuits

5.6 Auxiliary circuits

5.7 Vacant

5.8 Coordination with short-circuit protective devices (SCPD)

6 Product information

6.1 Nature of information

6.2 Marking

6.3 Instructions for installation, operation and maintenance

7 Normal service, mounting and transport conditions

7.1 Normal service conditions

7.2 Conditions during transport and storage

7.3 Mounting

7.4 Electrical system disturbances and influences

8 Constructional and performance requirements

8.1 Constructional requirements

8.2 Performance requirements

8.3 EMC requirements

9 Tests

9.1 Kinds of tests

9.2 Compliance with constructional requirements

9.3 Compliance with performance requirements

9.4 General

9.5 Routine and sampling tests

Annex A (normative) Marking and identification of terminals

Annex B (informative) Typical service conditions for controllers and contactors

Annex C Vacant

Annex D Vacant

Annex E Vacant

Annex F (informative) Operating capability

Annex G Vacant

Annex H Vacant

Annex I (normative) Modified test circuit for short-circuit testing of semiconductor contactors and controllers

Annex J (informative) Flowchart for constructing bypassed semiconductor controllers tests

Bibliography