ДСТУ EN 61300-3-35:2022 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 3-35. Проверки и измерения. Визуальная проверка волоконно-оптичес...

ДСТУ EN 61300-3-35:2022
(EN 61300-3-35:2015, IDT; IEC 61300-3-35:2015, IDT)

Волоконно-оптичні сполучні пристрої та пасивні компоненти.
Основні процедури випробувань і вимірювань. Частина 3-35. Перевірки та вимірювання.
Візуальна перевірка волоконно-оптичних з'єднувачів і приймачів-передавачів із оптоволокна

 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

1 Scope

2 Normative references

3 Terms, definitions and abbreviations

3.1 Terms and definitions

3.2 Abbreviations

4 Measurement

4.1 General

4.2 Measurement conditions

4.3 Pre-conditioning

4.4 Recovery

5 Apparatus

5.1 Method A: Direct view optical microscopy

5.2 Method B: Video microscopy

5.3 Method C: Automated analysis microscopy

5.4 Certification requirements for low and high resolution systems

5.4.1 General

5.4.2 Requirement for low resolution microscope systems

5.4.3 Requirements for high resolution microscope systems

6 Procedure

6.1 Certification procedure

6.2 Inspection procedure

6.3 Visual requirements

Annex A (informative) Examples of inspected end faces with surface anomalies

Annex B (normative) Diagram of qualification artefact and method of manufacture

B.1 High resolution artefact

B.2 Low resolution artefact

Bibliography

Figure 1 – Inspection procedure flow

Figure A.1 – Example 1 (low resolution system)

Figure A.2 – Example 1 (high resolution system)

Figure A.3 – Example 2 (low resolution system)

Figure A.4 – Example 2 (high resolution system)

Figure A.5 – Example 3 (low resolution system)

Figure A.6 – Example 3 (high resolution system)

Figure A.7 – Example 4 (low resolution system)

Figure A.8 – Example 4 (high resolution system)

Figure A.9 – Example 5 (low resolution system)

Figure A.10 – Example 6 (low resolution system)

Figure B.1 – Example of nano-indentation test system

Figure B.2 – Example of high resolution artefacts

Figure B.3 – Example of low resolution artefact pattern

Table 1 – Visual requirements for single-mode PC polished connectors, RL ≥ 45 dB

Table 2 – Visual requirements for single-mode angle polished (APC) connectors

Table 3 – Visual requirements for single-mode PC polished connectors, RL ≥ 26 dB and single-mode transceivers using a fibre-stub interface

Table 4 – Visual requirements for multi-mode PC polished connectors