ДСТУ IEC 60747-1:2009 Приборы полупроводниковые. Часть 1. Основные положения (IEC 60747-1:2006, IDT)

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ПРИЛАДИ НАПІВПРОВІДНИКОВІ

Частина 1. Загальні положення
(ІЕС 60747-1:2006, IDТ)

ДСТУ ІЕС 60747-1:2009

Відповідає офіційному тексту

Київ
З питань придбання офіційного видання звертайтесь до національного органу стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ»)
2018

ПЕРЕДМОВА

1 ВНЕСЕНО: Приватне підприємство «Електротехнік-стандарт»

ПЕРЕКЛАД І НАУКОВО-ТЕХНІЧНЕ РЕДАГУВАННЯ: Ю. Барахта (науковий керів-ник); С. Ніконова; В. Острєнко, канд. техн. наук; Я. Селезньова

2 НАДАНО ЧИННОСТІ: наказ Держспоживстандарту України від 29 грудня 2009 р. № 479 з 2012-01-01

3 Національний стандарт відповідає ІЕС 60747-1:2006 Semiconductor devices — Part 1: General (Прилади напівпровідникові. Частина 1. Загальні положення)

Ступінь відповідності — ідентичний (IDТ)

Переклад з англійської (еn)

4 УВЕДЕНО ВПЕРШЕ

ЗМІСТ

Національний вступ

1 Сфера застосування

2 Нормативні посилання

3 Терміни та визначення понять

3.1 Конструкція приладу

3.2 Елементи та кола

3.3 Теплові характеристики

3.4 Шум

3.5 Втрати перетворення

3.6 Стабільність характеристик

4 Літерні познаки

4.1 Загальні положення

4.2 Літерні познаки для струмів, напруги та потужності

4.3 Літерні познаки для відношень сигналів, виражених у дБ

4.4 Літерні познаки для інших електричних характеристик

4.5 Літерні познаки для інших характеристик

4.6 Представлення граничних значень

5 Основні параметри та характеристики

5.1 Загальні положення

5.2 Взаємозв'язок між умовами застосування, параметрами та характеристиками

5.3 Стандартний формат для представлення опублікованих даних

5.4 Позначення типу приладу

5.5 Позначення виводів і полярності

5.6 Електричні параметри та характеристики

5.7 Умови охолодження

5.8 Рекомендовані температури

5.9 Рекомендовані напруги та струми

5.10 Механічні параметри (граничні значення)

5.11 Механічні характеристики

5.12 Складані прилади, що мають спільний корпус

6 Методи вимірювання

6.1 Загальні положення

6.2 Альтернативні методи вимірювання

6.3 Точність вимірювання

6.4 Захист приладів та вимірювальне устатковання

6.5 Теплові умови для методів вимірювання

6.6 Точність вимірювальних схем

7 Приймання та надійність дискретних приладів

7.1 Загальні положення

7.2 Випробовування електричної стійкості

8 Прилади, чутливі до електростатики

8.1 Етикетка та познака

8.2 Методи випробовування напівпровідникових приладів, чутливих до короткотривалих імпульсів напруги

9 Повідомлення про припинення виробництва виробів

9.1 Терміни та визначення понять

9.2 Загальні аспекти припинення виробництва

9.3 Інформація для повідомлення про припинення виробництва

9.4 Повідомлення

9.5 Зберігання інформації

Додаток А Представлення серій стандартів ІЕС 60747 та ІЕС 60748

Бібліографія

Додаток НА Перелік національних стандартів України, розроблених на основі міжнародних стандартів, посилання на які є в цьому стандарті

НАЦІОНАЛЬНИЙ ВСТУП

Цей стандарт є тотожний переклад ІЕС 60747-1:2006 Semiconductor devices — Part 1: General (Прилади напівпровідникові. Частина 1. Загальні положення)

Технічний комітет, відповідальний за цей стандарт, — ТК 31 «Силові перетворювачі».

У стандарті зазначено вимоги, які відповідають чинному законодавству України.

До стандарту внесено такі редакційні зміни:

— слова «ця частина ІЕС 60747», «ця публікація» замінено на «цей стандарт», а слова «ІЕС 60747 та ІЕС 60748» замінено на «серія стандартів ІЕС 60747 та ІЕС 60748»;

— вилучено попередній довідковий матеріал і додаток В з міжнародного стандарту, що безпосередньо не стосуються теми стандарту;

— структурні елементи стандарту — «Титульний аркуш», «Передмову», «Зміст», «Національний вступ», першу сторінку, «Терміни та визначення понять» та «Бібліографію» — оформлено відповідно до вимог національної стандартизації України;

— у розділі 2 «Нормативні посилання« та в «Бібліографії» наведено «Національні пояснення», виділені в тексті рамкою;

— замість познаки натурального логарифма «log» наведено познаку десяткового логарифма «lg»;

— виправлено помилку в посиланні, наведеному в примітці до 3.6.2.

У цьому стандарті є посилання на ІЕС 60748-11:1990 та ІЕС 60469-1:1987, які впроваджено в Україні як національні стандарти. Перелік національних стандартів, розроблених на основі міжнародних стандартів, на які є посилання в цьому стандарті, наведено в додатку НА.

Решту стандартів, на які є посилання в цьому стандарті, не впроваджено в Україні як національні стандарти і чинних замість них документів немає.

НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ УКРАЇНИ

ПРИЛАДИ НАПІВПРОВІДНИКОВІ
Частина 1. Загальні положення

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
Часть 1. Основные положения

SEMICONDUCTOR DEVICES
Part 1. General

Чинний від 2012-01-01

1 СФЕРА ЗАСТОСУВАННЯ

Цей стандарт установлює загальні вимоги до дискретних напівпровідникових приладів та інтегрованих схем, на які поширюються інші частини серії стандартів ІЕС 60747 та ІЕС 60748 (див. додаток А).

2 НОРМАТИВНІ ПОСИЛАННЯ

У наведених нижче нормативних документах зазначено положення, які через посилання в цьому тексті становлять положення цього стандарту. У разі датованих посилань застосовують тільки наведені видання. У разі недатованих посилань треба користуватись останнім виданням нормативних документів (разом зі змінами).

ІЕС 60027 (all parts) Letter symbols to be used in electrical technology

IEC 60050-521 International Electrotechnical Vocabulary (IEV) — Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits

IEC 60050-702 International Electrotechnical Vocabulary (IEV) — Part 702: Oscillations, signals and related devices

IEC 60068 (all parts) Environmental testing

IEC 60191-2 Mechanical standardization of semiconductor devices — Part 2: Dimensions

IEC 60747 (all parts) Semiconductor devices

IEC 60748 (all parts) Semiconductor devices — Integrated circuits

IEC 60749-26 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing — Human body model (HBM)

IEC 61340 (all parts) Electrostatics

QC 001002 (all parts) IEC Quality Assessment Systems for Electronic Components (IECQ) — Rules of procedure

ISO 9000 Quality management systems — Fundamentals and vocabulary.

НАЦІОНАЛЬНЕ ПОЯСНЕННЯ

IEC 60027 (усі частини) Літерні познаки, що їх застосовують в електротехніці

ІЕС 60050-521 Міжнародний Електротехнічний Словник (IEV) Частина 521. Напівпровідникові прилади та інтегровані схеми

ІЕС 60050-702 Міжнародний Електротехнічний Словник (IEV). Частина 702. Коливання, імпульси та відповідні прилади

ІЕС 60068 (усі частини) Випробовування на вплив зовнішнього середовища

ІЕС 60191-2 Стандартизація конструкцій напівпровідникових приладів. Частина 2. Розміри

ІЕС 60747 (усі частини) Напівпровідникові прилади

ІЕС 60748 (усі частини) Напівпровідникові прилади. Інтегровані схеми

ІЕС 60749-26 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробовувань. Частина 26. Випробовування чутливості до електростатичного розряду. Макет людського тіла (МЛТ)

ІЕС 61340 (усі частини) Електростатика

QC 001002 (усі частини) Правила застосування методик системи оцінювання якості електронних компонентів за ІЕС (IECQ)

ISO 9000 Системи керування якістю. Основні положення та словник термінів.