ДСТУ EN 12668-2:2015 Неразрушающий контроль. Характеристика и верификация оборудования для ультразвукового контроля. Часть 2. Преобразователи (EN 12668-2:2010, IDT)

ПІДТВЕРДЖУВАЛЬНЕ ПОВІДОМЛЕННЯ

Державне підприємство
«Український науково-дослідний і навчальний центр
проблем стандартизації, сертифікації та якості»
(ДП «УкрНДНЦ»)

Наказ від 24.02.2016  № 52

EN 12668-2:2010

Non-destructive testing –
Characterization and verification of ultrasonic examination equipment –
Part 2: Probes

прийнято як національний стандарт
методом «підтвердження» за позначенням
Відповідає офіційному тексту

ДСТУ EN 12668-2:2015
(EN 12668-2:2010, IDT)

НЕРУЙНІВНИЙ КОНТРОЛЬ
Характеристика і верифікація обладнання для ультразвукового контролю.
Частина 2. Перетворювачі

З наданням чинності від 2016-01-01

Contents

Foreword

1  Scope

2  Normative references

3  Terms and definitions

4  General requirements for compliance

5  Technical specification for probes

6  Test equipment

6.1  Electronic equipment

6.2  Test blocks and other equipment

7  Performance requirements for probes

7.1  Physical aspects

7.1.1  Method

7.1.2  Acceptance criterion

7.2  Radio frequency pulse shape

7.2.1  Method

7.2.2  Acceptance criterion

7.3  Pulse spectrum and bandwidth

7.3.1  Method

7.3.2  Acceptance criteria

7.4  Relative pulse-echo sensitivity

7.4.1  Method

7.4.2  Acceptance criterion

7.5  Distance-amplitude curve

7.5.1  Method

7.5.2  Acceptance criterion

7.6  Electrical impedance

7.6.1  Method

7.6.2  Acceptance criteria

7.7  Beam parameters for immersion probes

7.7.1  General

7.7.2  Beam profile − measurements performed directly on the beam

7.7.3  Beam profile − measurements made using an automated scanning system

7.8  Beam parameters for contact, straight-beam, single transducer probes

7.8.1  General

7.8.2  Beam divergence and side lobes

7.8.3  Squint angle and offset

7.8.4  Focal distance (near field length)

7.8.5  Focal width

7.8.6  Focal length

7.9  Beam parameters for contact angle-beam single transducer probes

7.9.1  General

7.9.2  Index point

7.9.3  Beam angle and beam divergence

7.9.4  Squint angle and offset

7.9.5  Focal distance (near field length)

7.9.6  Focal width

7.9.7  Focal length

7.10  Beam parameters for contact, straight beam, dual-element probes

7.10.1  General

7.10.2  Cross talk

7.10.3  Distance to sensitivity maximum (focal distance)

7.10.4  Axial sensitivity range (focal length)

7.10.5  Lateral sensitivity range (focal width)

7.11  Beam parameters for contact angle beam, dual-element probes

7.11.1  General

7.11.2  Cross talk

7.11.3  Index point

7.11.4  Beam angle and profiles

7.11.5  Distance to sensitivity maximum (focal distance)

7.11.6  Axial sensitivity range (focal length)

7.11.7  Lateral sensitivity range (focal width)

Annex A (normative)  Calculation of near field length of non-focusing probes

A.1  General

A.2  Straight beam probes

A.3  Angle beam probes

Annex B (informative)  Calibration block for angle-beam probes

Bibliography