ДСТУ 60749-21:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 21. Паяність (EN 60749-21:2011, IDT; IEC 60749-21:2011, IDT)
ДСТУ EN 60749-21:2022
(EN 60749-21:2011, IDT; IEC 60749-21:2011, IDT)
Напівпровідникові прилади. Методи механічних і
кліматичних випробувань. Частина 21. Паяність
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)
Contents
1 Scope
2 Normative references
3 Test apparatus
3.1 Solder bath
3.2 Dipping device
3.3 Optical equipment
3.4 Steam ageing equipment
3.5 Lighting equipment
3.6 Materials
3.7 SMD reflow equipment
4 Procedure
4.1 Lead-free backward compatibility
4.2 Preconditioning
4.3 Procedure for dip and look solderability testing
4.4 Procedure for simulated board mounting reflow solderability testing of SMDs
5 Summary
Bibliography
Повна версія документа доступна в тарифі «ВСЕ ВРАХОВАНО».



