ДСТУ EN IEC 60749-26:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 26. Випробування на чутливість до електростатичного розряду (ESD). Модель людського тіла (HBM) (EN IEC...

ДСТУ EN IEC 60749-26:2022
(EN IEC 60749-26:2018, IDT; IEC 60749-26:2018, IDT)

 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних
випробувань. Частина 26. Випробування на чутливість до
електростатичного розряду (ESD). Модель людського тіла (HBM)

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Apparatus and required equipment

4.1 Waveform verification equipment

4.2 Oscilloscope

4.3 Additional requirements for digital oscilloscopes

4.4 Current transducer (inductive current probe)

4.5 Evaluation loads

4.6 Human body model simulator

4.7 HBM test equipment parasitic properties

5 Stress test equipment qualification and routine verification

5.1 Overview of required HBM tester evaluations

5.2 Measurement procedures

5.3 HBM tester qualification

5.4 Test fixture board qualification for socketed testers

5.5 Routine waveform check requirements

5.6 High voltage discharge path check

5.7 Tester waveform records

5.8 Safety

6 Classification procedure

6.1 Devices for classification

6.2 Parametric and functional testing

6.3 Device stressing

6.4 Pin categorization

6.5 Pin groupings

6.6 Pin stress combinations

6.7 HBM stressing with a low-parasitic simulator

6.8 Testing after stressing

7 Failure criteria

8 Component classification

Annex A (informative) HBM test method flow chart

Annex В (informative) HBM test equipment parasitic properties

Annex C (informative) Example of testing a product using Table 2, Table 3, or Table 2 with a two-pin HBM tester

Annex D (informative) Examples of coupled non-supply pin pairs

Annex E (normative) Cloned non-supply (I/O) pin sampling test method

Bibliography