ДСТУ EN IEC 60749-28:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 28. Випробування на чутливість до електростатичного розряду (ESD). Модель зарядженого пристрою (CDM) -...
ДСТУ EN IEC 60749-28:2022
(EN IEC 60749-28:2022, IDT; IEC 60749-28:2022, IDT)
Напівпровідникові прилади. Методи механічних і
кліматичних випробувань.
Частина 28. Випробування
на чутливість до електростатичного розряду (ESD).
Модель зарядженого пристрою (CDM) - рівень
пристрою
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)
CONTENTS
FOREWORD
INTRODUCTION
1 Scope
2 Normative references
3 Terms and definitions
4 Required equipment
4.1 CDM ESD tester
4.2 Waveform measurement equipment
4.3 Verification modules (metal discs)
4.4 Capacitance meter
4.5 Ohmmeter
5 Periodic tester qualification, waveform records, and waveform verification requirements
5.1 Overview of required CDM tester evaluations
5.2 Waveform capture hardware
5.3 Waveform capture setup
5.4 Waveform capture procedure
5.5 CDM tester qualification/requalification procedure
5.6 CDM tester quarterly and routine waveform verification procedure
5.7 Waveform characteristics
5.8 Documentation
5.9 Procedure for evaluating full CDM tester charging of a device
6 CDM ESD testing requirements and procedures
6.1 Tester and device preparation
6.2 Test requirements
6.3 Test procedures
6.4 CDM test recording / reporting guidelines
6.5 Testing of Devices in Small Packages
7 CDM classification criteri
Annex A (normative) Verification module (metal disc) specifications and cleaning guidelines for verification modules and testers
Annex B (normative) Capacitance measurement of verification modules (metal discs) sitting on a tester field plate dielectric
Annex C (normative) Testing of small package integrated circuits and discrete semiconductors (ICDS)
Annex D (informative) CDM test hardware and metrology improvements
Annex E (informative) CDM tester electrical schematic
Annex F (informative) Sample oscilloscope setup and waveform
Annex G (informative) Field-induced CDM tester discharge procedures
Annex H (informative) Waveform verification procedures
Annex I (informative) Determining the appropriate charge delay for full charging of a large module or device
Annex J (informative) Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing direct contact charged device model (DC-CDM)
Bibliography
Повна версія документа доступна в тарифі «ВСЕ ВРАХОВАНО».