ДСТУ EN 15063-1:2022 Мідь і мідні сплави. Визначення основних компонентів і домішок методом дисперсійної рентгенівської флуоресцентної спектрометрії (XRF). Частина 1. Настанови щодо рутинного метод (EN 15063-...

ДСТУ EN 15063-1:2022
(EN 15063-1:2014, IDT)

Мідь і мідні сплави. Визначення основних компонентів і домішок методом дисперсійної рентгенівської флуоресцентної спектрометрії (XRF). Частина 1. Настанови щодо рутинного методу

 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

Foreword

Introduction

1 Scope

2 Principle

3 Terms and definitions

4 Instrumentation

4.1 Principles of X-ray fluorescence spectrometers

4.2 X-ray tubes

4.3 Vacuum system

4.4 Test sample spinner

4.5 Filters

4.6 Collimators of slits

4.7 Analysing crystals

4.8 Counters

4.9 Simultaneous and sequential Instruments

5 Sampling and test sample preparation

6 Evaluation methods

6.1 General

6.2 Dead time correction

6.3 Background correction

6.4 Line interference correction models

6.5 Inter-element effects correction models

7 Calibration procedure

7.1 General

7.2 Optimizing of the diffraction angle (2?)

7.3 Selecting optimum conditions for detectors

7.4 Selecting optimum tube voltage and current

7.5 Selecting minimum measuring times

7.6 Selecting calibration samples

7.7 Selecting drift control and recalibration samples

7.8 Measuring the calibration samples

7.9 Regression calculations

8 Method validation (accuracy and precision)

9 Performance criteria

9.1 General

9.2 Precision test

9.3 Performance monitoring

9.4 Maintenance

10 Radiation protection

Annex A (informative) Example of calculating background equivalent concentration, limit of detection, limit of quantification and lower limit of detection

Annex B (informative) Example of calculating line interference of one element to another

Annex C (informative) Example of performance criteria obtained under repeatability conditions

Bibliography