ДСТУ EN 60749-23:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах (EN 60749-23:2004, IDT; IEC 60749-23:2004, IDT)

Данный документ доступнен в тарифе «ВСЕ ВКЛЮЧЕНО»

У Вас есть вопросы по документу? Мы рады на них ответить!Перечень бесплатных документовОбнаружили ошибку в документе или на сайте? Пожалуйста, напишите нам об этом!Оставить заявку на документ


ДСТУ EN 60749-23:2022
(EN 60749-23:2004, IDT; IEC 60749-23:2004, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 23. Термін служби за високих температур

 

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Test apparatus

4.1 Circuitry

4.2 Device mounting

4.3 Power supplies and signal sources

4.4 Environmental chamber

5 Procedure

5.1 Stress duration

5.2 Stress conditions

6 Cool-down

7 Measurements

8 Failure criteria

9 Summary

Полная версия документа доступна в тарифе «ВСЕ ВКЛЮЧЕНО».

Войти в Личный кабинет Подробнее о тарифах

БУДСТАНДАРТ Online