ДСТУ EN 60749-23:2022 Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 23. Термін служби за високих температур (EN 60749-23:2004, IDT; IEC 60749-23:2004, IDT)

ДСТУ EN 60749-23:2022
(EN 60749-23:2004, IDT; IEC 60749-23:2004, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань.
Частина 23. Термін служби за високих температур

 
   
 
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Test apparatus

4.1 Circuitry

4.2 Device mounting

4.3 Power supplies and signal sources

4.4 Environmental chamber

5 Procedure

5.1 Stress duration

5.2 Stress conditions

6 Cool-down

7 Measurements

8 Failure criteria

9 Summary