ДСТУ EN 60749-37:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра (EN 60749-37:2008, IDT; IEC 607...

ДСТУ EN 60749-37:2022
(EN 60749-37:2008, IDT; IEC 60749-37:2008, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних і кліматичних випробувань. Частина 37. Метод випробування на падіння рівня плати з використанням акселерометра

 
   
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

INTRODUCTION

1 Scope and object

2 Normative references

3 Terms and definitions

4 Test apparatus and components

4.1 Test apparatus

4.2 Test components

4.3 Test board

4.4 Test board assembly

4.5 Number of components and sample size

5 Test procedure

5.1 Test equipment and parameters

5.2 Pre-test characterization

5.3 Drop testing

6 Failure criteria and failure analysis

7 Summary

Annex A (informative) Preferred board construction, material, design and layout

Annex ZA (normative) Normative references to international publications with their corresponding European publications

Bibliography