ДСТУ EN 62417:2022 Полупроводниковые приборы. Мобильные ионные испытания металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET) (EN 62417:2010, IDT; IEC 62417:2010, IDT)

Данный документ доступнен в тарифе «ВСЕ ВКЛЮЧЕНО»

У Вас есть вопросы по документу? Мы рады на них ответить!Перечень бесплатных документовОбнаружили ошибку в документе или на сайте? Пожалуйста, напишите нам об этом!Оставить заявку на документ


ДСТУ EN 62417:2022
(EN 62417:2010, IDT; IEC 62417:2010, IDT)

Напівпровідникові прилади. Мобільні іонні
випробування металооксидних
напівпровідникових польових транзисторів
(MOSFET)

 
 
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope

2 Abbreviations and letter symbols

3 General description

4 Test equipment

5 Test structures

6 Sample size

7 Conditions

8 Procedure

8.1 Bias temperature stress

8.2 Voltage sweep

9 Criteria

10 Reporting

Полная версия документа доступна в тарифе «ВСЕ ВКЛЮЧЕНО».

Войти в Личный кабинет Подробнее о тарифах

БУДСТАНДАРТ Online