ДСТУ 60749-29:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на фиксацию (EN 60749-29:2011, IDT; IEC 60749-29:2011, IDT)

ДСТУ EN 60749-29:2022
(EN 60749-29:2011, IDT; IEC 60749-29:2011, IDT)

Напівпровідникові прилади. Методи механічних
і кліматичних випробувань. Частина 29.
Випробування на фіксацію

 
 
 
 
     
Не є офіційним виданням.
Офіційне видання розповсюджує національний орган стандартизації
(ДП «УкрНДНЦ» http://uas.gov.ua)

Contents

1 Scope and object

2 Terms and definitions

3 Classification and levels

3.1 Classification

3.2 Levels

4 Apparatus and material

4.1 Latch-up tester

4.2 Automated test equipment (ATE)

4.3 Heat source

5 Procedure

5.1 General latch-up test procedure

5.2 Detailed latch-up test procedure

6 Failure criteria

7 Summary

Annex A (informative) Examples of special pins that are connected to passive components

Annex B (informative) Calculation of operating ambient or operating case temperature for a given operating junction temperature