- 01 Общие положения. Терминология. Стандартизация. Документация.
- 03 Социология. Услуги. Организация и управление предприятими. Администрирование. Транспорт
- 07 Математика. Естественные науки
- 11 Здравоохранение
- 13 Окружающая среда. Защита окружающей среда и здоровья человека. Безопасность.
- 17 Метрология и измерения. Физические явления.
- 19 Испытания.
- 21 Механические системы и компоненты общего назначения
- 23 Гидравлические и пневматические системы и компоненты общего назначения
- 25 Машиностроение
- 27 Энергетика и теплотехника
- 29 Электротехника
- 31 Электроника
- 33 Телекоммуникации. Аудио- и видеотехника
- 35 Информационные технологии
- 37 Технология получения изображений
- 39 Точная механика. Ювелирство
- 43 Дорожно-транспортная техника
- 45 Железнодорожная техника
- 47 Судостроение и морские сооружения
- 49 Авиационная и космическая техника
- 53 Подъемно-транспортное оборудование
- 55 Упаковка и распределение товаров
- 59 Технология текстильного и кожевенного производства
- 61 Швейная промышленность
- 65 Сельское хозяйство
- 67 Технология производства пищевых продуктов
- 71 Технология химического производства
- 73 Горное дело и полезные ископаемые
- 75 Нефть и смежные технологии
- 77 Металлургия
- 79 Деревообрабатывающая промышленность
- 81 Стеклянная и керамическая промышленность
- 83 Производство резины и пластмасс
- 85 Бумажная промышленность
- 87 Лакокрасочная промышленность
- 91 Строительные материалы и строительство
- 93 Гражданское строительство
- 95 Военные вопросы. Военная техника. Вооружение
- 97 Бытовая техника и оборудование. Отдых. Спорт
31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
ДСТУ EN 60479-10:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 10. Механический удар (EN 60479-10:2002, IDT; IEC 60479-10:2002, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-2:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Низкое давление воздуха (EN 60749-2:2002, IDT; IEC 60749-2:2002, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-8:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Уплотнение (EN 60749-8:2003, IDT; IEC 60749-8:2002, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-22:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность соединения (EN 60749-22:2003, IDT; IEC 60749-22:2002, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-31:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств с пластиковыми капсулами (внутренняя индукция) (EN 60749-31:2003, I...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-32:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств с пластиковыми капсулами (внешняя индукция) (EN 60749-32:2003, IDT;...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-23:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах (EN 60749-23:2004, IDT; IEC 60749-23:2004, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-24:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические способы испытаний. Часть 24. Ускоренная влагостойкость. Беспристрастный HAST (EN 60749-24:2004, IDT; IEC 60749-24:2004, ID...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-33:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 33. Ускоренная влагостойкость. Беспристрастный автоклав (EN 60749-33:2004, IDT; IEC 60749-33:2004,...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-30:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметичных приборов для поверхностного монтажа перед испы...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-27:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду (ESD). Модель машины (MM) (EN 6074...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-35:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов с пластиковыми капсулами (EN 60749-35:2006, I...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-37:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра (EN 60749-37:2008, IDT;...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-38:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на ошибку полупроводниковых приборов с памятью (EN 60749-38:2008, IDT; IEC 607...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-20:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20. Устойчивость SMD в пластиковой капсуле к совместному воздействию влаги и теплой пайке (EN 6074...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-20-1:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 20-1. Обработка, упаковка, маркировка и транспортировка приборов для поверхностного монтажа, чув...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-15:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки для монтируемых приборов через отверстие (EN 60749-15:2010, I...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-23:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Срок службы при высоких температурах (EN 60749-23:2004/A1:2011, IDT; IEC 60749-23:2004/A1:2011...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-32:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 32. Воспламеняемость приборов с пластиковыми капсулами (внешняя индукция) (EN 60749-32:2003/A1:201...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-30:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметичных приборов для поверхностного монтажа перед испы...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ 60749-7:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение содержания внутренней влаги и анализ других остаточных газов (EN 60749-7:2011, IDT; IEC 6...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ 60749-21:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 21. Паяность (EN 60749-21:2011, IDT; IEC 60749-21:2011, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ 60749-29:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на фиксацию (EN 60749-29:2011, IDT; IEC 60749-29:2011, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ 60749-34:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34. Циклическое изменение мощности (EN 60749-34:2010, IDT; IEC 60749-34:2010, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ 60749-40:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания на падение уровня платы с использованием тензодатчика (EN 60749-40:2011, IDT; IEC...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-15:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки на приборе, монтируемом через отверстие (EN 60749-15:2010/AC:...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 62374-1:2022 Полупроводниковые приборы. Часть 1. Тест на пробой диэлектрика, зависящий от времени (TDDB) для межметаллических слоев (EN 62374-1:2010/AC:2011, IDT). Поправка № 1:2022
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 60749-27:2022 Полупроводниковые приборы. Методы механических и климатических испытаний. Часть 27. Испытание на чувствительность к электростатическому разряду (ESD). Модель машины (MM) (EN 6074...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 62779-1:2022 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для передачи сигнала через тело человека. Часть 1. Общие требования (EN 62779-1:2016, IDT; IEC 62779-1:2016, IDT)
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский
ДСТУ EN 62779-2:2022 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для передачи сигнала через тело человека. Часть 2. Определение характеристик интерфейса (EN 62779-2:2016, IDT; IEC 62779-2:2...
Действующий
Дата принятия: 28.12.2022
Язык документа: Английский