- 01 Загальні положення. Термінологія. Стандартизація. Документація.
- 03 Соціологія. Послуги. Організація та керування підприємствами. Адміністрування. Транспорт
- 07 Математика. Природничі науки
- 11 Охорона здоров’я
- 13 Довкілля. Захист довкілля та здоров’я людини. Безпека.
- 17 Метрологія та вимірювання. Фізичні явища.
- 19 Випробовування.
- 21 Механічні системи та компоненти загального застосування
- 23 Гідравлічні та пневматичні системи і компоненти загального застосування
- 25 Машинобудування
- 27 Енергетика і теплотехніка
- 29 Електротехніка
- 31 Електроніка
- 33 Телекомунікації. Аудіо- та видеотехніка
- 35 Інформаційні технології
- 37 Технологія отримування зображень
- 39 Точна механіка. Ювелірство
- 43 Дорожньо-транспортна техніка
- 45 Залізнична техніка
- 47 Суднобудування та морські споруди
- 49 Авіаційна та космічна техніка
- 53 Підіймально-транспортне устатковання
- 55 Пакування та розподіляння товарів
- 59 Технологія текстильного та шкіряного виробництва
- 61 Швацька промисловість
- 65 Сільське господарство
- 67 Технологія виробництва харчових продуктів
- 71 Технологія хімічного виробництва
- 73 Гірництво та корисні копалини
- 75 Нафта й суміжні технології
- 77 Металургія
- 79 Деревообробна промисловість
- 81 Скляна та керамічна промисловість
- 83 Виробництво гуми та пластмас
- 85 Паперова промисловість
- 87 Лакофарбова промисловість
- 91 Будівельні матеріали та будівництво
- 93 Цивільне будівництво
- 95 Військові питання. Військова техніка. Озброєння
- 97 Побутова техніка та торговельне устатковання. Відпочинок. Спорт
31.080 Напівпровідникові прилади
Цей розділ включає підрозділи.
Виберіть один із них ліворуч, щоб переглянути документи конкретного підкрозділу.
Показано 1 - 13 з 13
ДСТУ EN 62373:2022 Тест на стійкість до температури зсуву для металооксидних, напівпровідникових польових транзисторів (MOSFET) (EN 62373:2006, IDT; IEC 62373:2006, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 62374:2022 Напівпровідникові прилади. Випробування залежного від часу діелектричного пробою (TDDB) для затворних діелектричних плівок (EN 62374:2007, IDT; IEC 62374:2007, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 62415:2022 Напівпровідникові прилади. Тест на електроміграцію постійного струму (EN 62415:2010, IDT; IEC 62415:2010, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 62416:2022 Напівпровідникові прилади. Випробування гарячих носіїв МОП-транзисторів (EN 62416:2010, IDT; IEC 62416:2010, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 62417:2022 Напівпровідникові прилади. Мобільні іонні випробування металооксидних напівпровідникових польових транзисторів (MOSFET) (EN 62417:2010, IDT; IEC 62417:2010, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 62374-1:2022 Напівпровідникові прилади. Частина 1. Тест на пробій діелектрика, що залежить від часу (TDDB) для міжметалевих шарів (EN 62374-1:2010, IDT; IEC 62374-1:2010, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 62418:2022 Напівпровідникові прилади - Випробування на порожнечу під напругою металізації (EN 62418:2010, IDT; IEC 62418:2010, IDT)
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 60191-6-3:2022 Стандартизація конструкції напівпровідникових приладів. Частина 63. Загальні правила підготовки габаритних креслень корпусів напівпровідникових приладів для поверхневого монтажу...
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 60191-4:2022 Стандартизація конструкції напівпровідникових приладів. Частина 4. Система кодування та класифікація форм корпусів напівпровідникових приладів (EN 60191-4:1999/A1:2002, IDT; IEC 6...
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 60191-4:2022 Стандартизація конструкції напівпровідникових приладів. Частина 4. Система кодування та класифікація форм корпусів напівпровідникових приладів (EN 60191-4:1999/A2:2002, IDT; IEC 6...
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 60191-6:2022 Стандартизація конструкції напівпровідникових приладів. Частина 6. Загальні правила підготовки габаритних креслень комплектів напівпровідникових приладів для поверхневого монтажу ...
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ EN 60191-4:2022 Стандартизація конструкції напівпровідникових приладів. Частина 4. Система кодування та класифікація форм корпусів напівпровідникових приладів строїв (EN 60191-4:2014, IDT; IEC 60...
Діючий
Дата прийняття: 28.12.2022
Мова документа: Англійська
ДСТУ IEC 60747-1:2009 Прилади напівпровідникові. Частина 1. Загальні положення (ІEC 60747-1:2006, ІDT)
Діючий
Дата прийняття: 29.12.2009
Мова документа: Українська
Показано 1 - 13 з 13